SPC统计过程控制之不合格品率P图过程控制用解释

SPC统计过程控制是TS16949五大核心工具之一，是日常管理最实用管理工具之一，作业众多成熟管理系统必备工具,被应用到几乎所有行业众多领域。本篇摘要介绍SPC统计过程控制之不合格品率P图控过程控制用解释，仅供参考。

过程控制用控制图解释

C 目的：找出过程不再以同一水平运行的证据——即过程失控——并采取相应的措施。数据点中存在超出控制限的点，或者存在超出随机情况下可能出现的明显趋势或图形，这就表明存在变差的特殊原因。

C.1  分析数据点，找出不稳定的证据

   超出控制限的点（见图34）

   a．超出任一控制限就证明在那点不稳定。由于过程稳定且只存在普通原因变差时，很少会出现超出控制限的点。所以我们假设超出的值是由于特殊原因造成的。特殊原因可能有益也可能有害，两种情况下都应立即调整。这是对任何控制图采取措施的主要决定原则。应标注任何超出控制的点。

超出上控制限的点（不合格品率更高）通常表明存在下列的一个或多个情况：

   ·控制限或描点错误；

   ·过程性能恶化，在当时那点或作为一种趋势的一部分；

   ·评价系统已改变（例如：检验员、量规）。

   低于控制限下的点不合格品率更低）通常表明存在下列一个或多个情况：

   ·控制限或描点错误；

   ·过程性能已改进（为了改进，应当研究这种情况且长期保持）；

   ·测量系统已改变。

   在控制限之内的图形或趋势——出现异常的图形或趋势，即即使所有的点都在控制限之内，都证明在出现这个图形或趋势的时期内过程失控或性能水平变化。这种情况会提前给出有关状态的警告，如不纠正，这种状态将造成点超出控制限。

   注：当每个子组的不合格项目的平均值（np）较大时（≥9），子组的p的分布近似于正态分布并且可以使用与X图所用分析相似的分布方法。若np较小（≤5以下），则不能直接应用下列规则。

b．链（见图35）——在一个受控的，np中等较大的过程中，落在均值两侧的点的数量将几乎相等。下列任一情况都表明过程变化或开始有变化的趋势：

   ·连续7点位于均值的一侧；

   ·连续7点上升（后者与前者相等或比前者大）或连续地下降。

   在这些情况下，应对促使采取措施的点进行标记（例如第7个高于平均值的点），从这点作一条参考线延伸到链的开始点是有帮助的，分析时应考虑趋势出现或开始变化时的大致时间。

   出现高于均值的长链或连续上升的点，通常表明存在下列情况之一或两者：

   ·过程的性能已恶化——而且可能还在恶化；

   ·评价系统已改变。

   出现低于均值的长链或连续下降，通常明明存在下列情况之一：

   · 过程性能已改进（应研究其原因，并将它固定下来）；

   · 评价系统已改变。

     注：当np很小进（5以下），出现低于p的链的可能性增加，因此有必要用长度为8点或更多的点的长链来作为合格品率降低的标志。