SPC统计过程控制之均值和标准差图介绍

SPC统计过程控制是TS16949五大核心工具之一，是日常管理最实用管理工具之一，作业众多成熟管理系统必备工具,被应用到几乎所有行业众多领域。本篇摘录介绍SPC统计过程控制之均值和标准差图，仅供参考。

均值和标准差图(X—s图)

      象均值和极差图一样，均值和标准差图也是从测得的过程输出数据中发展来的。并且通常也是成对使用。由于极差容易计算且对样本容量较小的子组（尤其是小于9的）较为有效。所以研究出了极差图来俄国过程变差的情况。但是，它计算起来比较复杂，而且不容易检查出仅因子组内单个值异常造成变差的特殊原因。一般说来，当出现下列一种或多种情况时用s图代替R图：

      • 数据是由计算机按实时时序记录和/或描图的，则s的计算程序容易集成化；

      • 有方便适用的袖珍计算器使s的计算能简单按程序算出；

      • 使用的子组样本容量较大，更有效的变差量度是合适的。

      X—s图的详细说明与X—R图的很相似；不同之处如下：

A．收集数据

（见本章第1节第A部分，不同之处如下）

•如果原始数据量大，常将他们记录在单独的数据表上，只有每组的X和s出现在图上；

.用公式之一计算每个子组的标准差;

s图的刻度尺寸应与相应的均值图的相同

B． 计算控制限（请注意下面S上有个横线丢失）

（参见均值与极差控制图部分，不同之处如下）

• 计算标准差和均值的上、下控制限（UCL_S，LCL_S，UCL_X，LCL_X）：

UCL_S = B ₄s                       UCL_X = X+A ₃s

LCL_S = B ₃s                        LCL_X = X+A ₃s

式中：s为各子组样本标准差的均值，B ₄、B ₃和A ₃随样本容量变化的常数，可从常数表获得。